Análisis de fluorescencia de rayos X, XRF de zirconio, circón, arena de zirconio | © CRB Analysis Service GmbH

Circón, baddeleyita, piedras que contienen circonitas

Datos clave de circón, baddeleyita, piedras que contienen circonitas

  • Composición: Silicato de circonio, circón - ZrO+ HfOaprox. 63–67%, resto SiO2 / baddeleyita - ZrO+ HfO2 / circonio que contiene piedras hasta 35% ZrO2
  • Materias primas: Para la producción de silicato de circonio puro materiales y sílice de alumina-zirconia sinterizada, materiales AZS Hecho de circón, mullita, baddeleyita y corindón.
  • Uso: Como piedra resistente a la corrosión en la industria del vidrio, la industria del acero.

Tipos de examen para el análisis de circonio, baddeleyita, piedras que contienen circonio

  • Varios programas de medición completos para el análisis de fluorescencia de rayos X de circonio a partir de una digestión de fusión
  • Análisis de cribado de hasta 71 elementos de un polvo compacto
  • Investigaciones complementarias

Análisis cuantitativo de fluorescencia de rayos X a partir de una digestión de fusión

XRF cuantitativa de un comprimido bucodispersable en 12, 16, 20, 30 o 40 elementos según DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19

Para el análisis de muestras oxidadas y oxidables de diversas composiciones, tales como vidrio y fibras de vidrio, suelos, rocas, materias primas minerales, cerámica o. En este proceso, el material de muestra se coloca con un flujo (tetraborato de litio), se funde en una atmósfera oxidante, se apaga como una tableta de vidrio homogénea y se analiza como tal con gran precisión.

! Por favor, tenga en cuenta !

Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La determinación de la molienda, el secado y la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios XRF.

Análisis de cribado sobre 71 elementos

El Programa de Parámetro Fundamental Omnian se utiliza para XRF cuantitativa, semicuantitativa o cualitativa de muestras desconocidas de diferentes propiedades materiales y composiciones (inorgánicas y orgánicas). El material de muestra se puede preparar en forma preparada o con la composición adecuada (rayos X y estable al vacío!) y la textura superficial pueden analizarse sin preparación y no destructiva, por lo que pueden determinarse las concentraciones de los elementos entre el límite de detección, normalmente 250 µg/g y el 100%.

! Por favor, tenga en cuenta !

Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La determinación de la molienda, el secado y la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios XRF.

Normas y directrices para el análisis de fluorescencia de rayos X de circonio, baddeleyita, circonio que contienen piedras

  • DIN EN ISO 12677:2013-02 – Análisis químico de productos refractarios mediante análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Proceso de fusión
  • DIN EN ISO 26845:2008-06 – Análisis químico Productos refractarios - Requisitos generales para el análisis químico húmedo, métodos de espectrometría de absorción atómica (AAS), espectrometría de emisión atómica con excitación por plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
  • DIN 51001:2003-08 – Ensayos de materias primas oxidadas - Principios generales de trabajo para X Análisis de fluorescencia de rayos X (XRF)
  • DIN 51001 Suplemento 1:2010-05 – Ensayos de materias primas y materiales oxidados - Principios generales de trabajo para el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Descripción general de los métodos de digestión relacionados con grupos de materiales para la producción de muestras para la XRF
  • DIN 51081:2002-12 – Pruebas de materias primas y materiales oxidados - Determinación del cambio de masa en Glow
  • DIN 51418- 1:2008-08 – Análisis espectral de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Términos y principios generales
  • DIN 51418- 2:2015-03 – Análisis espectral de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Términos y conceptos básicos para la medición, calibración y evaluación