Bauxita, piedras de bauxita
- Composición: grados de piedra de roble aluminario con 80–85% Al2O3, 10–15% SiO2
- Materias primas: Bauxita en base lateritica o carbonática. Depósitos más grandes en Australia, China, Brasil
- Uso: Como materia prima para la producción de aluminio. Áreas de aplicación de piedras de bauxita: sartenes y tapas de hornos eléctricos en la industria siderúrgica, industria del cemento, hornos de estantería de aluminio, instalaciones de incineración de residuos.
Tipos de investigaciones para el análisis de bauxita
- Varios programas de medición completos para el análisis por fluorescencia de rayos X de bauxita y ladrillos de bauxita procedentes de una digestión por fusión
- Análisis de cribado de hasta 71 elementos de un polvo compacto
- Investigaciones complementarias
- Determinación de la densidad aparente y de la porosidad
- Análisis de carbono – TC, TOC, TIC
- Microanálisis de rayos X, EDX para la identificación de inclusiones, impurezas, etc.
Análisis cuantitativo de fluorescencia de rayos X a partir de una digestión de fusión
XRF cuantitativa de un comprimido bucodispersable en 12, 16, 20, 30 o 40 elementos según DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19
Para el análisis de muestras oxídicas y oxidables de diferentes composiciones como fibras de vidrio y de vidrio, suelos, rocas, materias primas minerales, materiales de construcción cerámicos o ligados a minerales y muchos más.
En este proceso, el material de muestra se coloca con un flujo (tetraborato de litio), se funde en una atmósfera oxidante, se apaga como una tableta de vidrio homogénea y se analiza como tal con gran precisión.
! Por favor, tenga en cuenta !
Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La determinación de la molienda, el secado y la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios XRF.
Análisis de cribado sobre 71 elementos
El Programa de Parámetro Fundamental Omnian se utiliza para XRF cuantitativa, semicuantitativa o cualitativa de muestras desconocidas de diferentes propiedades materiales y composiciones (inorgánicas y orgánicas). El material de muestra se puede preparar en forma preparada o con la composición adecuada (rayos X y estable al vacío!) y la textura superficial pueden analizarse sin preparación y no destructiva, por lo que pueden determinarse las concentraciones de los elementos entre el límite de detección, normalmente 250 µg/g y el 100%.
! Por favor, tenga en cuenta !
Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La determinación de la molienda, el secado y la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios XRF.
Normas y directrices para el análisis de fluorescencia de rayos X de bauxita, piedras de bauxita
- DIN EN ISO 12677:2013-02 – Análisis químico de productos refractarios mediante análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Proceso de fusión
- DIN EN ISO 26845:2008-06 – Análisis químico de productos refractarios - General Requisitos para el análisis químico húmedo, métodos de espectrometría de absorción atómica (AAS), espectrometría de emisión atómica con excitación por plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
- DIN 51001:2003-08 – Ensayos de materias primas y materiales oxidados - Principios generales de trabajo para el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF)
- DIN 51001 Suplemento 1:2010-05 – Ensayos de materias primas y materiales oxidados - Principios generales de trabajo para el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Descripción general de los métodos de digestión basados en grupos de materiales para la producción de muestras para la XRF
- DIN 51081:2002-12 – Ensayos de materias primas oxidadas y materiales - Determinación del cambio de masa en el recocido
- DIN 51418- 1:2008 -08 - Análisis espectral de rayos X - Análisis de emisiones de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Términos y principios generales
- DIN 51418- 2:2015-03 – Análisis espectral de rayos X - Análisis de emisiones de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Términos y conceptos básicos para la medición, calibración y evaluación